فیلترها/جستجو در نتایج    

فیلترها

سال

بانک‌ها



گروه تخصصی











متن کامل


نویسندگان: 

MARDARE D. | NICA V. | TEODORESCU C.M.

نشریه: 

SURFACE SCIENCE

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2007
  • دوره: 

    601
  • شماره: 

    -
  • صفحات: 

    4479-4483
تعامل: 
  • استنادات: 

    1
  • بازدید: 

    127
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 127

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 1 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1402
  • دوره: 

    23
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    605-610
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    40
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

در این مقاله، مغناطومقاومت (MR) و مغناطو مقاومت ناهمسانگرد(AMR) لایه­ های نازک La_0.4 Pr_0.3 Ca_0.3 MnO_3 (LPCMO) مورد بررسی قرار گرفته است. لایه­های نازک LPCMO با استفاده از روش لیزر تپی (PLD) بر روی زیرلایه­های و لایه نشانی شده­اند. با ضخامت سنجی لایه­های نازک به روش بازتاب سنجی پرتو ایکس ( XRR) ضخامت لایه­ها حدود 90 نانومتر براورد شد. نمونۀ LPCMO بر روی زیرلایۀ LAO به علت تنش تراکمی زیاد دمای گذار عایق- فلز پایین تری نسبت به نمونۀ لایه نشانی شده بر روی MGO دارد. همچنین مقدار MR در لایه­های LPCMO/LAO و LPCMO/MGO به ترتیب 57 و 98 درصد به دست آمد. مقدار AMR بیشینه، در لایۀ LPCMO/MGO (80 درصد) نسبت به نمونۀ LPCMO/LAO (32 درصد) افزایش قابل ملاحظه ای دارد که به لحاظ پتانسیل کاربردی اهمیت زیادی دارد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 40

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2021
  • دوره: 

    40
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    1023-1029
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    162
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

The present contribution is devoted to the production of the Ni-Bi-Se thin films widely used in the field of electronics, electrotechnology, and computer technology. During the process, at first, the Bi-Se compound has been formed on the nickel electrode by electrochemical method, and then by thermal treatment of this compound at 673K, ternary compound Ni3Bi2Se2 has been obtained. The results show that as the concentration of bismuth is increasing, its amount in deposited films increases regularly. The formation of the Ni3Bi2Se2 compound was also confirmed by XRD results. The photochemical properties of the obtained compounds were investigated in the dark and light, constant current of 100 nA for 0-600 seconds. With the illumination of the dark samples, the potential shifts from a positive side to a negative side, this decrease indicates that obtained thin films are not only photosensitive, also have n-type conductivity.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 162

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
نویسندگان: 

KHOJIER K. | ZOLGHADR S. | ZARE N.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2012
  • دوره: 

    1
  • شماره: 

    3
  • صفحات: 

    199-207
تعامل: 
  • استنادات: 

    1
  • بازدید: 

    149
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 149

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 1 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1385
  • دوره: 

    17
  • شماره: 

    1
  • صفحات: 

    1-6
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1531
  • دانلود: 

    371
چکیده: 

در این مقاله یک سامانه ساده و کارا برای لایه نشانی اکسید قلع به روش LPCVD ارایه شده است. سامانه دارای ویژگیهای نوینی است که نشانش لایه های اکسید قلع را در یک محفظه بسته ممکن ساخته است. در طول فرایند لایه نشانی، سامانه ورودی ندارد و کنترل پارامترهای فرآیند لایه نشانی به آسانی میسر است. لایه اکسید قلع از ترکیب بخارهای کلرید قلع و آب روی زیر لایه شیشه ای در دمای 250°C تشکیل می شود. منبع پیش ماده داخل محفظه واکنش تعبیه شده است و تبخیر کنترل شده اجزا واکنش در داخل محفظه لایه نشانی انجام می شود. تنظیم فشار محفظه در محدوده Torr 50-10 توسط مجموعه ای متشکل از یک پمپ روتاری و سه شیر خلا، برای هر نرخ تبخیر ممکن گردیده است. کلیه پارامترهای مهم فرآیند شامل نرخ تبخیر، دمای زیر لایه، فشار محفظه، مدت لایه نشانی و نسبت اجزای پیش ماده قابل اندازه گیری و کنترل می باشند. میکروگرافهای SEM لایه های بدست آمده در محدوده ضخامت nm 400 – 50 مطالعه شده است. بدون اعمال آلایش، حداکثر ضریب هدایت سطحی لایه های اکسید قلع حاصل، □.moh 3- 10 است. در هدایت سطحی بیش از □.moh 4‑ 10، هدایت سطحی نمونه های نشانده شده با خطای 10%± تغییر قابل تکرار بود.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1531

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 371 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 1
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2012
  • دوره: 

    6
  • شماره: 

    6
  • صفحات: 

    1-5
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    330
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

In the present paper, we have studied the effect of photo-illumination on electrical properties of nanocrystalline ZnSe thin films. The ZnSe thin films with different grain sizes (coherently diffracting domains) have been prepared. The semiconducting material with the composition Zn25Se75 has been prepared using melt-quenching technique. Thermal evaporation technique has been used to prepare nanocrystalline ZnSe thin films on highly cleaned glass substrates at different partial pressures of Ar gas. The grain size has been controlled by the partial pressure of inert gas. The grain size has been calculated using X-ray diffraction plots. Mobility activation has been studied from the photocurrent decay curves. The effective density of states (Neff), frequency factor (S), and trap depth (E) have been calculated for all the films having different grain sizes. Three different types of trap levels have been found in these films. There is a linear distribution of traps having different energies below the conduction band. The increase in photoconductivity is explained in terms of built in potential barriers (φb) at the grain boundaries.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 330

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
نویسندگان: 

هابرمیر اچ.یو.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1385
  • دوره: 

    6
  • شماره: 

    3
  • صفحات: 

    117-128
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    905
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

این مقاله پیشرفت فن آوریهای آماده سازی لایه های نازک HTS را از روشهای مبتنی بر لایه نشانی بخار فیزیکی تا آخرین روشهای ارایه شده امروزی مرور می کند. مقاله شامل مسیرهای اصلی فرآیند در محل و کنترل رشد است. فعالیتهای جاری برای ساخت نوارهای مورد استفاده در کاربردهای توانی و نیز ساخت بهینه بین صفحه ای در کوپراتها مورد بحث قرار گرفته است. برخی از مسیرهای آتی در تحقیقات فیلمهای نازک HTS، چه در علوم و چه در کاربرد نیز معرفی شده اند.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 905

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2012
  • دوره: 

    5
تعامل: 
  • بازدید: 

    167
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

IN THIS PAPER, SYNTHESIS OF WO3-X thin films AND THEIR OPTICAL, STRUCTURE AND SURFACE PROPERTIES HAVE STUDIED. FIRST, WO3 thin films WERE DEPOSITED BY THERMAL EVAPORATION UNDER VACUUM CONDITION ON GLASS SUBSTRATES. THEN, THE DEPOSITED SAMPLES WERE ANNEALED UNDER ATMOSPHERE AT 400OC FOR 1 H. AFTER THIS, THEY WERE REDUCED UNDER PURE HYDROGEN ENVIRONMENT AT 500OC FOR DIFFERENT TIME DURATION OF 0-480 MIN TO PRODUCE WO3-X COMPOSITION. THE SAMPLES WITH DIFFERENT REDUCTION TIME UNDER H2 WERE ANALYZED BY XRD, UV-VISIBLE SPECTROPHOTOMETER AND AFM. XRD SPECTRA SHOWED THAT THE SAMPLES BEFORE THE REDUCTION PROCESS DO NOT HAVE ANY WO3-X STRUCTURE, BUT AFTER THE REDUCTION PROCESS, WO2.8 CRYSTALLINE PHASE WAS FORMED. BY INCREASING THE REDUCTION TIME, THE INTENSITY OF WO2.8 PHASE WAS INCREASED. TRANSMITTANCE AND REFLECTANCE MEASUREMENTS OF THE SAMPLES AT 500 AND 1100 NM WAVELENGTH INDICATED THAT BEFORE THE REDUCTION PROCESS THE SAMPLES WERE TRANSPARENT, WHILE AFTER THE REDUCTION PROCESS THEY BECOME DARK AND THEIR REFLECTANCE WERE INCREASED IN IR REGION.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 167

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0
نویسنده: 

AZAD ALIREZA | AFSHAR SHAHRARA | Milani Hosseini Seyed Mohammad Reza | Tajarodi Azade

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2013
  • دوره: 

    6
تعامل: 
  • بازدید: 

    136
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

IN VIEW OF THE INCREASINGLY STRICT LEGAL LIMITS FOR POLLUTANT GAS EMISSIONS, THERE IS A GREAT INTEREST IN DEVELOPING HIGH PERFORMANCE GAS SENSORS FOR APPLICATIONS SUCH AS CONTROLLING AIR POLLUTION AND EXHAUST GASES [1]. IN THIS WAY, SEMICONDUCTOR GAS SENSORS, DUE TO THEIR MANY PARTICULAR ADVANTAGES OVER TRADITIONAL CHEMICAL ANALYSIS METHODS, SUCH AS HIGH RESPONSE, LOW COST AND PORTABILITY, ARE WIDELY USED FOR THE DETECTION OF TOXIC OR FOUL-SMELLING GASES, CHEMICAL PROCESS CONTROL AND MONITORING OF AIR POLLUTION IN THE ENVIRONMENT [2]. CARBON MONOXIDE IS ONE OF THE MOST DANGEROUS GASES IN AIR POLLUTION AND HUMAN LIFE. IT IS HIGHLY TOXIC AND EXTREMELY DANGEROUS. AMONG USEFUL SEMICONDUCTING METAL OXIDES AS SENSING MATERIALS, ZNO HAS BEEN EXTENSIVELY INVESTIGATED FOR DETECTION OF TOXIC AND INFLAMMABLE GASES SUCH AS CO [3]. PURE METAL OXIDE SEMICONDUCTORS HAVE A RELATIVELY POOR GAS SENSING PROPERTY, AND IT IS REQUIRED TO DOPE WITH OTHER ELEMENTS OR OXIDES TO IMPROVE THE PERFORMANCE [4]. DOPING IS AN EFFECTIVE WAY TO TAILOR THE GAS SENSING PROPERTY OF ZNO GAS SENSORS. TWO PARAMETERS DOMINANTLY CHANGED BY THE DOPANTS: THE RESPONSE (OR SENSITIVITY) AND/OR THE TEMPERATURE WHERE THE GAS SENSING MAXIMUM IS GAINED [5]. PURE ZNO, AL AND CU DOPED ZNO thin films AT VARIOUS DOPING CONCENTRATIONS (2, 5, 10 MOL %) WERE PREPARED BY THE SOL–GEL METHOD. THE CO SENSING PROPERTIES OF THE thin films WERE TESTED AT DIFFERENT OPERATING TEMPERATURES AND VARIOUS CONCENTRATIONS OF CO GAS. ALSO EFFECTS THE CONCENTRATION AND TYPE OF DOPANTS ON THE RESPONSE OF GAS SENSORS WERE INVESTIGATED.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 136

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0
نویسندگان: 

HOSSEINI REZA

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2006
  • دوره: 

    1
  • شماره: 

    2
  • صفحات: 

    77-87
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    283
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

Measurement of thermal properties for some coatings as potential selective surfaces is reported and parameters affecting the preparation of the coatings are indicated. Although Mo-Black oxide electroplated on aluminum substrate among the coatings did not show the selectivity desired, but its resistance and tolerance at moderate temperature (250°C for 36 hours at atmospheric pressure) are considerable and should be taken as a possible candidate for color coatings in decoration and as a resistant coating against oxidation. Dip coating on galvanized steel and zinc shows some order of selectivity (a/e » 5); better selectivity which is not far to reach would make this coating a good and suitable material. From the economical point of view and the simplicity of production it is also a promising coating as selective surfaces for flat plate solar collectors as well as concentrated collectors.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 283

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
litScript
telegram sharing button
whatsapp sharing button
linkedin sharing button
twitter sharing button
email sharing button
email sharing button
email sharing button
sharethis sharing button